Review Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

hoainamlean

New member
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

[Đặt Mua Ngay để Hưởng Free Shipping toàn quốc!]: (https://shorten.asia/r7GrsGrq)
#ElectronMicroscopy #ScanningElectronMicroscope #ScanningProbemiaRoscopy ** Nguyên tắc vật lý của kính hiển vi điện tử: Giới thiệu về STEM, SEM và AFM **

Kính hiển vi điện tử là một công cụ mạnh mẽ để chụp ảnh và nghiên cứu cấu trúc của vật liệu tại nano.Cuốn sách này cung cấp một phần giới thiệu toàn diện về các nguyên tắc vật lý của kính hiển vi điện tử, với sự nhấn mạnh vào kính hiển vi điện tử truyền tải (STEM), kính hiển vi điện tử quét (SEM) và kính hiển vi lực nguyên tử (AFM).

Cuốn sách bắt đầu với một cái nhìn tổng quan về các nguyên tắc cơ bản của quang học điện tử, bao gồm các nguồn điện tử, ống kính và máy dò.Tiếp theo là một cuộc thảo luận chi tiết về STEM, SEM và AFM, bao gồm các chủ đề như hình thành hình ảnh, độ phân giải và độ tương phản.Cuốn sách cũng bao gồm một chương về chuẩn bị mẫu và thuật ngữ các điều khoản.

Cuốn sách này là một nguồn tài nguyên thiết yếu cho bất cứ ai muốn tìm hiểu thêm về kính hiển vi điện tử.Nó phù hợp cho sinh viên tốt nghiệp, các nhà nghiên cứu và kỹ sư quan tâm đến việc sử dụng kính hiển vi điện tử để nghiên cứu vật liệu tại nano.

** Hashtags: **

* kính hiển vi điện tử
* Kính hiển vi điện tử quét
* quét kính hiển vi thăm dò
=======================================
[Đặt Mua Ngay để Hưởng Free Shipping toàn quốc!]: (https://shorten.asia/r7GrsGrq)
=======================================
#ElectronMicroscopy #ScanningElectronMicroscope #scanningprobemicroscopy **Physical Principles of Electron microscopy: An Introduction to STEM, SEM, and AFM**

Electron microscopy is a powerful tool for imaging and studying the structure of materials at the nanoscale. This book provides a comprehensive introduction to the physical principles of electron microscopy, with an emphasis on scanning transmission electron microscopy (STEM), scanning electron microscopy (SEM), and atomic force microscopy (AFM).

The book begins with an overview of the basic principles of electron optics, including electron sources, lenses, and detectors. This is followed by a detailed discussion of STEM, SEM, and AFM, covering topics such as image formation, resolution, and contrast. The book also includes a chapter on sample preparation and a glossary of terms.

This book is an essential resource for anyone who wants to learn more about electron microscopy. It is suitable for graduate students, researchers, and engineers who are interested in using electron microscopy to study materials at the nanoscale.

**Hashtags:**

* electron microscopy
* scanning electron microscope
* scanning probe microscopy
=======================================
[Cơ Hội Cuối Cùng - Sở Hữu Ngay với Giá Ưu Đãi!]: (https://shorten.asia/r7GrsGrq)
 
Join Telegram ToolsKiemTrieuDoGroup
Back
Top